FastFLIM数字频域 (DFD)

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Overview of FastFLIM

当数据的采集时间至关重要时,FastFLIM是您用于FLIM采集的首选数据采集卡。该卡通过数字频域 (DFD) 技术开发,能够避开TCSPC方法中典型的死区时间对时间标记时间分辨数据进行采集。四个独立的输入通道可以被装配用于接受来自PMT、没有TTL输出的APD、或是两种探测器结合所发出的信号。

该设计允许在两个通道上同时采集上至每通道80 x 106 次/秒的最大FLIM数据,或是在四个通道上同时采集每通道40 x 106 次/秒的最大FLIM数据。可以解析时间尺度下至皮秒上至秒的衰减时 (FLIM和PLIM)。除了拟合分析之外,通过FastFLIM获取的FLIM数据可以在没有失真的情况下直接用于相位图。该卡受Windows 11 64位驱动器的支持,通过USB3.0协议与计算机通信。

特点

  • 在4个通道上同时采集
  • 从PMT和APD的直接输入 (或是两者的结合)
  • 光子计数速率上至1 x 109次每秒
  • 死区时间1.56 ns
  • 触发以同步外部设备
  • 由外部源提供触发输入
  • 线时钟与帧时钟的同步
  • USB通讯
  • Windows 11, 64比特的驱动器

应用

  • 时间标记相位分辨寿命测量
  • 单波长FLIM,多波长FLIM
  • 单波长PLIM,多波长PLIM
  • 共焦成像
  • 偏振图像 (稳态和时间分辨)
  • FCS, FCCS, PCH
  • 扫描FCS, RICS, N&B
  • 化学计量
  • 单分子FRET
  • PIE测量

FastFLIM单元被奥林巴斯、尼康和蔡司用于商业激光扫描显微镜 (LSMs) 的FLIM和FFS升级套件中。另外,它也可以作为一个独立的单元用于组装定制化FLIM仪器。

Product Specifications for FastFLIM

构造
  • USB 3.0
CLK频率
  • 640 MHz
输入端口通道的数量
  • 4个独立通道
输入电压范围
  • 从PMTs和/或APDs (-1V ~ +5V, 50 Ω)
衰减时测量
  • PLIM和FLIM: 100 ps至100 ms
死区时间
  • 1.56 ns
外部CLK输入
  • 10 ~ 80 MHz (LVTTL / TTL, 50 Ω)
参照CLK输出
  • 0.0596 Hz – 80 MHz, 振幅:+ 1.2 & 1.8 V (50 Ω)
参照同步输出
  • 20 MHz 50%占空比,振幅:+ 2.5 V (50 Ω)
行/帧/像素扫描
  • 与扫描仪同步
数据处理和储存
  • FCS,FCCS,PCH,smFRET,突发分析原始数据的获取
  • 在线处理或之后处理
原始数据大小
  • 32比特
原始数据文件结构
  • 256字节标题的二进制文件
最大信号计数 (仅包括稳态强度)
  • 109 次/秒
    (四通道同时采集:250 x 106 次/秒/通道)
FCS和FLIM中的最大信号 (时间标记和时间标记时间分辨 – TTTR)
  • 160 x 106 次/秒
    (双通道同时采集:80 x 106 次/秒/通道)
    (四通道同时采集:40 x 106 次/秒)
电源
  • 120/240 V, 50/60 Hz, 40 W
大小 (cm)
  • 42.5 (宽) x 36 (深) x 10 (高)
下载数据表

FastFLIM在仪器中如何运作

来自探测器的信号被导入FastFLIM单元。扫瞄镜单元发出的帧/线/像素CLK信号提供了采集与样品上激光XY位置之间的同步。

Schematic of FastFLIM