Overview of FastFLIM
当数据的采集时间至关重要时,FastFLIM是您用于FLIM采集的首选数据采集卡。该卡通过数字频域 (DFD) 技术开发,能够避开TCSPC方法中典型的死区时间对时间标记时间分辨数据进行采集。四个独立的输入通道可以被装配用于接受来自PMT、没有TTL输出的APD、或是两种探测器结合所发出的信号。
该设计允许在两个通道上同时采集上至每通道80 x 106 次/秒的最大FLIM数据,或是在四个通道上同时采集每通道40 x 106 次/秒的最大FLIM数据。可以解析时间尺度下至皮秒上至秒的衰减时 (FLIM和PLIM)。除了拟合分析之外,通过FastFLIM获取的FLIM数据可以在没有失真的情况下直接用于相位图。该卡受Windows 11 64位驱动器的支持,通过USB3.0协议与计算机通信。
特点
- 在4个通道上同时采集
- 从PMT和APD的直接输入 (或是两者的结合)
- 光子计数速率上至1 x 109次每秒
- 死区时间1.56 ns
- 触发以同步外部设备
- 由外部源提供触发输入
- 线时钟与帧时钟的同步
- USB通讯
- Windows 11, 64比特的驱动器
应用
- 时间标记相位分辨寿命测量
- 单波长FLIM,多波长FLIM
- 单波长PLIM,多波长PLIM
- 共焦成像
- 偏振图像 (稳态和时间分辨)
- FCS, FCCS, PCH
- 扫描FCS, RICS, N&B
- 化学计量
- 单分子FRET
- PIE测量
FastFLIM单元被奥林巴斯、尼康和蔡司用于商业激光扫描显微镜 (LSMs) 的FLIM和FFS升级套件中。另外,它也可以作为一个独立的单元用于组装定制化FLIM仪器。
Product Specifications for FastFLIM
构造
- USB 3.0
CLK频率
- 640 MHz
输入端口通道的数量
- 4个独立通道
输入电压范围
- 从PMTs和/或APDs (-1V ~ +5V, 50 Ω)
衰减时测量
- PLIM和FLIM: 100 ps至100 ms
死区时间
- 1.56 ns
外部CLK输入
- 10 ~ 80 MHz (LVTTL / TTL, 50 Ω)
参照CLK输出
- 0.0596 Hz – 80 MHz, 振幅:+ 1.2 & 1.8 V (50 Ω)
参照同步输出
- 20 MHz 50%占空比,振幅:+ 2.5 V (50 Ω)
行/帧/像素扫描
- 与扫描仪同步
数据处理和储存
- FCS,FCCS,PCH,smFRET,突发分析原始数据的获取
- 在线处理或之后处理
原始数据大小
- 32比特
原始数据文件结构
- 256字节标题的二进制文件
最大信号计数 (仅包括稳态强度)
- 109 次/秒
(四通道同时采集:250 x 106 次/秒/通道)
FCS和FLIM中的最大信号 (时间标记和时间标记时间分辨 – TTTR)
- 160 x 106 次/秒
(双通道同时采集:80 x 106 次/秒/通道)
(四通道同时采集:40 x 106 次/秒)
电源
- 120/240 V, 50/60 Hz, 40 W
大小 (cm)
- 42.5 (宽) x 36 (深) x 10 (高)
FastFLIM在仪器中如何运作
来自探测器的信号被导入FastFLIM单元。扫瞄镜单元发出的帧/线/像素CLK信号提供了采集与样品上激光XY位置之间的同步。